GUANGDONG LABCOMPANION Ltd. Por meio de uma nova patente em testes de semicondutores com câmara de teste de alta e baixa temperatura.

Dongguan, China – 2 de abril de 2025 –Companheiro de laboratório, uma inovadora líder em soluções de testes ambientais, recebeu uma patente inovadora para sua câmara de teste avançada de alta e baixa temperatura projetado para detecção de chip semicondutor. A patente, oficialmente emitida pela Administração Nacional de Propriedade Intelectual da China em 1º de abril de 2025 (Patente nº ZL 2024 1 1290322.4), marca um marco significativo no comprometimento da empresa com precisão e confiabilidade em testes industriais.

Revolucionando os testes de semicondutores

A tecnologia recém-patenteada introduz um sistema de ponta capaz de submeter chips semicondutores a variações extremas de temperatura com precisão inigualável. Esta inovação aborda desafios críticos na indústria de semicondutores, onde testes térmicos precisos são essenciais para garantir a durabilidade e o desempenho do chip sob diversas condições operacionais.

Parâmetros padrão para testes ambientais de chips semicondutores

1. Teste de temperatura

- Faixa de temperatura:

- Faixa de operação: -40°C a +125°C (comum para chips de nível industrial)

- Faixa estendida: -65°C a +150°C (para aplicações militares/aeroespaciais)

- Ciclagem Térmica:

- Taxa de variação: 5°C/min a 20°C/min (dependendo dos padrões de teste)

- Tempo de permanência: 10–30 minutos em temperaturas extremas (para estabilizar as condições)

- Ciclos: 100–1.000 ciclos (conforme JEDEC, MIL-STD ou AEC-Q100)

2. Teste de umidade

- Umidade relativa (UR): 85%–95% UR

- Temperatura: 85°C (comumente usada em testes "85/85" para envelhecimento acelerado)

- Duração: 500–1.000 horas (conforme JESD22-A101)

3. Teste de choque térmico

- Temperaturas extremas: -55°C a +125°C (conforme MIL-STD-883G Método 1011)

- Tempo de transição: <1 minuto (líquido para líquido) ou <5 minutos (ar-ar)

- Ciclos: 50–500 ciclos

4. Vibração e estresse mecânico

- Faixa de frequência: 5 Hz–2 kHz (conforme MIL-STD-883)

-Aceleração: 5–20 G (dependendo da aplicação)

5. Outros padrões críticos

- Padrões JEDEC (por exemplo, JESD22-A104 para ciclagem térmica)

- AEC-Q100: Qualificação de chip de nível automotivo

- MIL-STD-883: Teste de confiabilidade militar/defesa

- IEC 60068: Diretrizes gerais de testes ambientais

Esses parâmetros garantem que os chips semicondutores atendam aos requisitos da indústria para desempenho sob condições extremas. Valores específicos podem variar com base na aplicação (por exemplo, eletrônicos de consumo vs. automotivo).

Observação: consulte sempre a versão mais recente dos padrões relevantes (JEDEC, AEC, MIL-STD, etc.) para obter protocolos de teste precisos.

“Nossos parâmetros de teste otimizados vão além dos padrões tradicionais de três maneiras críticas. Primeiro, expandimos a faixa de temperatura para -70℃ a +175℃ — muito mais ampla do que os típicos -40℃ a +125℃ — para atender às demandas de eletrônica de potência e aplicações aeroespaciais. Segundo, aceleramos as taxas de ciclo térmico para 30℃/min, reduzindo o tempo de teste pela metade, mantendo a precisão, diferente da abordagem convencional de 5–20℃/min. Terceiro, integramos vibração multieixo (até 50G) com choques térmicos extremos (-65℃↔+175℃ em menos de 30 segundos), uma combinação raramente abordada em padrões mais antigos como JEDEC ou MIL-STD. Essas atualizações não apenas testam chips; elas os preparam para o futuro.” Disse o CEO.

“Esta patente ressalta nossa dedicação em expandir os limites da tecnologia de testes”, disse um porta-voz do LabCompanion. “Nossa câmara de teste de alta e baixa temperatura não apenas aumenta a eficiência, mas também define um novo padrão de confiabilidade no controle de qualidade de semicondutores.

Principais características e vantagens

- Controle de precisão: O equipamento oferece regulagem precisa de temperatura, permitindo testes rigorosos em uma ampla gama de condições térmicas.

- Durabilidade aprimorada: Projetado para suportar ciclos térmicos repetidos, o sistema garante estabilidade e precisão a longo prazo.

- Operação fácil de usar: A metodologia que acompanha simplifica procedimentos de testes complexos, tornando-os acessíveis para aplicações industriais.

Na vanguarda da tecnologia de câmaras de teste ambientais, combinamos inovação constante com insights de mercado para desenvolver soluções de teste avançadas para cada indústria. Comprovados no mercado por meio de qualidade e serviço excepcionais, somos motivados pela sua escolha para ultrapassar limites cada dia mais.

Para obter mais informações sobre equipamentos de teste de temperatura, visite [Câmara de teste de alta e baixa temperatura] .