Burn-in é um teste de estresse elétrico que emprega voltagem e temperatura para acelerar a falha elétrica de um dispositivo. Burn-in essencialmente simula a vida útil do dispositivo, uma vez que a excitação elétrica aplicada durante o burn-in pode espelhar o viés do pior caso ao qual o dispositivo será submetido no curso de sua vida útil. Dependendo da duração do burn-in usada, as informações de confiabilidade obtidas podem pertencer à vida útil inicial do dispositivo ou ao seu desgaste. Burn-in pode ser usado como um monitor de confiabilidade ou como uma tela de produção para eliminar potenciais mortalidades infantis do lote. O burn-in é geralmente feito a 125 graus C, com excitação elétrica aplicada às amostras. O processo de burn-in é facilitado pelo uso de placas de burn-in (veja a Fig. 1) onde as amostras são carregadas. Essas placas de burn-in são então inseridas no forno de burn-in (veja a Fig. 2), que fornece as tensões necessárias às amostras enquanto mantém a temperatura do forno a 125 graus C. A polarização elétrica aplicada pode ser estática ou dinâmica, dependendo do mecanismo de falha que está sendo acelerado. Figura 1. Foto de placas de burn-in nuas e preenchidas com soquetesA distribuição do ciclo de vida operacional de uma população de dispositivos pode ser modelada como uma curva de banheira, se as falhas forem plotadas no eixo y contra a vida operacional no eixo x. A curva de banheira mostra que as maiores taxas de falha experimentadas por uma população de dispositivos ocorrem durante o estágio inicial do ciclo de vida, ou início da vida, e durante o período de desgaste do ciclo de vida. Entre os estágios inicial e de desgaste, há um longo período em que os dispositivos falham muito esporadicamente. Figura 2. Dois exemplos de fornos de queimaO burn-in do monitor de falha precoce (ELF), como o nome indica, é realizado para filtrar potenciais falhas precoces. Ele é conduzido por uma duração de 168 horas ou menos, e normalmente por apenas 48 horas. Falhas elétricas após o burn-in do monitor ELF são conhecidas como falhas precoces ou mortalidade infantil, o que significa que essas unidades falharão prematuramente se forem usadas em sua operação normal.O teste de vida útil em alta temperatura (HTOL) é o oposto do teste de burn-in do monitor ELF, testando a confiabilidade das amostras em sua fase de desgaste. O HTOL é conduzido por uma duração de 1000 horas, com pontos de leitura intermediários em 168 H e 500 H.Embora a excitação elétrica aplicada às amostras seja frequentemente definida em termos de tensões, mecanismos de falha acelerados por corrente (como eletromigração) e campos elétricos (como ruptura dielétrica) são compreensivelmente acelerados também pela queima.
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