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Equipamento de teste de chip semicondutor do Lab Companion
RÁPIDO
Temperatura e umidade altamente aceleradas Teste de estresse
uHAST
HAST imparcial
HTSL/Cozimento
Vida útil de armazenamento em alta temperatura
LTSL
Vida útil de armazenamento em baixa temperatura
TC
Ciclismo de temperatura
TS
Choque térmico
THB/85/85
Temperatura Humidade Blas
TH (THS/THC)
Temperatura Humidade
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Rede IPv6 suportada