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Confiabilidade - Meio Ambiente
A análise de confiabilidade é baseada em dados quantitativos como base da qualidade do produto, por meio da simulação experimental, do produto em um determinado momento, do uso específico de condições ambientais, da implementação de especificações específicas, da probabilidade de conclusão bem-sucedida de objetivos de trabalho, para dados quantitativos como base para garantia de qualidade do produto. Entre eles, o teste ambiental é um item de análise comum na análise de confiabilidade.
O teste de confiabilidade ambiental é um teste realizado para garantir que a confiabilidade funcional de um produto seja mantida durante o período de vida especificado, sob todas as circunstâncias em que ele se destina a ser usado, transportado ou armazenado. O método de teste específico é expor o produto a condições ambientais naturais ou artificiais, avaliar o desempenho do produto sob as condições ambientais de uso real, transporte e armazenamento, e analisar o impacto de fatores ambientais e seu mecanismo de ação.
O laboratório de Análise de Nanoconfiabilidade da Sembcorp avalia principalmente a confiabilidade do CI aumentando a temperatura, umidade, polarização, IO analógico e outras condições, e selecionando condições para acelerar o envelhecimento de acordo com os requisitos de design do CI. Os principais métodos de teste são os seguintes:
Teste de ciclo de temperatura TC
Padrão experimental: JESD22-A104
Objetivo: Acelerar o efeito da mudança de temperatura na amostra
Procedimento de teste: A amostra é colocada em uma câmara de teste, que alterna entre temperaturas especificadas e é mantida em cada temperatura por pelo menos dez minutos. Os extremos de temperatura dependem das condições selecionadas no método de teste. O estresse total corresponde ao número de ciclos concluídos na temperatura especificada.
capacidade do equipamento
Faixa de temperatura | -70℃—+180℃ |
Taxa de mudança de temperatura | 15℃/min linear |
Volume interno | 160L |
Dimensão interna | L800*A500*P400mm |
Dimensão externa | L1000 * A1808 * P1915 mm |
Quantidade de amostra | 25 / 3 lotes |
Tempo/passagem | 700 ciclos / 0 falha |
Teste de polarização de alta temperatura BLT
Padrão experimental: JESD22-A108
Objetivo: A influência do viés de alta temperatura nas amostras
Processo de teste: Coloque a amostra na câmara experimental, defina o valor limite de tensão e corrente especificado na fonte de alimentação, tente executar em temperatura ambiente, observe se a corrente limitada ocorre na fonte de alimentação, meça se a tensão do terminal do chip de entrada atende à expectativa, registre o valor atual em temperatura ambiente e defina a temperatura especificada na câmara. Quando a temperatura estiver estável no valor definido, ligue em alta temperatura e registre o valor da corrente de alta temperatura
Capacidade do equipamento:
Faixa de temperatura | +20℃—+300℃ |
Volume interno | 448L |
Dimensão interna | L800*A800*P700mm |
Dimensão externa | L1450 * A1215 * P980 mm |
Quantidade de amostra | 25 / 3 lotes |
Tempo/passagem | Temperatura da caixa 125℃, 1000 horas/ 0 falha |
Teste de estresse altamente acelerado HAST
Padrão experimental: JESD22-A110/A118 (EHS-431ML, EHS-222MD)
Objetivo: O HAST fornece condições de estresse múltiplo constantes, incluindo temperatura, umidade, pressão e polarização. Realizado para avaliar a confiabilidade de equipamentos embalados não fechados operando em ambientes úmidos. Múltiplas condições de estresse podem acelerar a infiltração de umidade através do composto do molde de encapsulamento ou ao longo da interface entre o material de proteção externo e o condutor de metal que passa pelo encapsulamento. Quando a água atinge a superfície da peça nua, o potencial aplicado configura uma condição eletrolítica que corrói o condutor de alumínio e afeta os parâmetros DC do dispositivo. Contaminantes presentes na superfície do chip, como cloro, podem acelerar muito o processo de corrosão. Além disso, muito fósforo na camada de passivação também pode reagir sob essas condições.
Dispositivo 1 e dispositivo 2
Capacidade do equipamento:
Quantidade de amostra | 25 / 3 lotes |
Tempo/passagem
| 130℃,85%RH,96hrs/ 0 falha |
110℃,85%RH,264hrs/ 0 falha |
Dispositivo 1
Faixa de temperatura | -105℃—+142,9℃ |
Faixa de umidade | 75% UR—100% UR |
Faixa de pressão | 0,02—0,196 MPa |
Volume interno | 51L |
Dimensão interna | L355*A355*P426mm |
Dimensão externa | L860 * A1796 * P1000mm |
Dispositivo 2
Faixa de temperatura | -105℃—+142,9℃ |
Faixa de umidade | 75% UR—100% UR |
Faixa de pressão | 0,02—0,392 MPa |
Volume interno | 180L |
Dimensão interna | L569*A560*P760mm |
Dimensão externa | L800 * A1575 * P1460 mm |
Teste de ciclo de temperatura e umidade THB
Padrão experimental: JESD22-A101
Objetivo: A influência da mudança de temperatura e umidade na amostra
Processo experimental: Coloque a amostra na câmara experimental, defina o valor limite de tensão e corrente especificado na fonte de alimentação, tente executar em temperatura ambiente, observe se a corrente limitada ocorre na fonte de alimentação, meça se a tensão do terminal do chip de entrada atende à expectativa, registre o valor atual em temperatura ambiente e defina a temperatura especificada na câmara. Quando a temperatura estiver estável no valor definido, ligue em alta temperatura e registre o valor da corrente de alta temperatura
Capacidade do equipamento:
Faixa de temperatura | -40℃—+180℃ |
Faixa de umidade | 10% UR—98% UR |
Taxa de conversão de temperatura | 3℃/min |
Volume interno | 784L |
Dimensão interna | L1000*A980*P800mm |
Dimensão externa | L1200 * A1840 * P1625 mm |
Quantidade de amostra | 25 / 3 lotes |
Tempo/passagem | 85℃,85%RH,1000hrs/ 0 falha |
Ciclo de temperatura e umidade do procedimento, não há umidade quando a temperatura está acima de 100℃ |
Teste de choque de temperatura TSA&TSB
Padrão experimental: JESD22-A106
Objetivo: Acelerar o efeito da mudança de temperatura na amostra
Processo de teste: A amostra é colocada na câmara de teste, e a temperatura especificada é definida dentro da câmara. Antes do aquecimento, é confirmado que a amostra foi fixada no molde, o que evitou danos devido à queda da amostra na câmara durante o experimento.
Capacidade do equipamento:
| Segurança da Segurança do Trabalho | TSB |
Faixa de temperatura | -70℃—+200℃ | -65℃—+200℃ |
Taxa de mudança de temperatura | ≤5min | <20S |
Volume interno | 70L | 4,5L |
Dimensão interna | L410*A460*P3700mm | L150*A150*P200mm |
Dimensão externa | L1310 * A1900 * P1770 mm | L1200 * A1785 * P1320 mm |