Teste de confiabilidade para diodos emissores de luz para comunicação

Teste de confiabilidade para diodos emissores de luz para comunicação

Determinação de falha de diodo emissor de luz de comunicação:

Forneça uma corrente fixa para comparar a potência de saída óptica e determinar a falha se o erro for maior que 10%

Teste de estabilidade mecânica:

Teste de impacto: 5tims/eixo, 1500G, 0,5ms

Teste de vibração: 20G, 20 ~ 2000Hz, 4min/ciclo, 4ciclos/eixo

Teste de choque térmico líquido: 100℃(15seg)←→0℃(5seg)/5ciclos

Resistência ao calor da solda: 260℃/10 segundos/1 vez

Adesão da solda: 250℃/5 segundos

Teste de durabilidade:

Teste de envelhecimento acelerado: 85℃/potência (potência nominal máxima)/5000 horas, 10000 horas

Armazenamento em alta temperatura: temperatura máxima de armazenamento nominal /2000 horas

Teste de armazenamento em baixa temperatura: temperatura máxima de armazenamento nominal /2000 horas

Teste de ciclo de temperatura: -40℃(30min)←85℃(30min), RAMP: 10/min, 500 ciclos

Teste de resistência à umidade: 40℃/95%/56 dias, 85℃/85%/2000 horas, tempo de selagem

Teste de triagem de elemento de diodo de comunicação:

Teste de triagem de temperatura: 85℃/potência (potência nominal máxima)/96 horas de determinação de falha de triagem: Compare a potência de saída óptica com a corrente fixa e determine a falha se o erro for maior que 10%

Teste de triagem do módulo de diodo de comunicação:

Etapa 1: Triagem do ciclo de temperatura: -40℃(30min)←→85℃(30min), RAMP: 10/min, 20 ciclos, sem fonte de alimentação

Etapa 2: Teste de triagem de temperatura: 85℃/potência (potência nominal máxima)/96 horas