Teste de Aceleração de Testes de Confiabilidade

Teste de Aceleração de Testes de Confiabilidade

A maioria dos dispositivos semicondutores tem vidas úteis que se estendem por muitos anos em uso normal. No entanto, não podemos esperar anos para estudar um dispositivo; temos que aumentar o estresse aplicado. Estresses aplicados aumentam ou aceleram mecanismos de falha em potencial, ajudam a identificar a causa raiz e ajudam companheiro de laboratório tome medidas para evitar o modo de falha.

Em dispositivos semicondutores, alguns aceleradores comuns são temperatura, umidade, voltagem e corrente. Na maioria dos casos, o teste acelerado não altera a física da falha, mas altera o tempo de observação. A mudança entre a condição acelerada e a de uso é conhecida como 'derating'.

Testes altamente acelerados são uma parte essencial dos testes de qualificação baseados em JEDEC. Os testes abaixo refletem condições altamente aceleradas com base na especificação JEDEC JESD47. Se o produto passar nesses testes, os dispositivos serão aceitáveis ​​para a maioria dos casos de uso.

Ciclo de temperatura

De acordo com o padrão JESD22-A104, o ciclo de temperatura (TC) submete as unidades a transições extremas de temperaturas altas e baixas entre as duas. O teste é realizado ciclando a exposição da unidade a essas condições por um número predeterminado de ciclos.

Vida útil operacional em alta temperatura (HTOL)

HTOL é usado para determinar a confiabilidade de um dispositivo em alta temperatura enquanto sob condições operacionais. O teste é geralmente executado por um longo período de tempo de acordo com o padrão JESD22-A108.

Teste de Tensão Altamente Acelerada com Tendência de Temperatura e Umidade (BHAST)

De acordo com o padrão JESD22-A110, THB e BHAST submetem um dispositivo a condições de alta temperatura e alta umidade enquanto sob um viés de tensão com o objetivo de acelerar a corrosão dentro do dispositivo. THB e BHAST atendem ao mesmo propósito, mas as condições e procedimentos de teste de BHAST permitem que a equipe de confiabilidade teste muito mais rápido do que THB.

Autoclave/HAST imparcial

Autoclave e HAST imparcial determinam a confiabilidade de um dispositivo sob condições de alta temperatura e alta umidade. Como THB e BHAST, é realizado para acelerar a corrosão. Ao contrário desses testes, no entanto, as unidades não são estressadas sob um viés.

Armazenamento em alta temperatura

HTS (também chamado de Bake ou HTSL) serve para determinar a confiabilidade de longo prazo de um dispositivo sob altas temperaturas. Diferentemente de HTOL, o dispositivo não está sob condições operacionais durante o teste.

Descarga eletrostática (ESD)

Carga estática é uma carga elétrica desequilibrada em repouso. Normalmente, ela é criada por superfícies isolantes esfregando-se ou afastando-se; uma superfície ganha elétrons, enquanto a outra superfície perde elétrons. O resultado é uma condição elétrica desequilibrada conhecida como carga estática.

Quando uma carga estática se move de uma superfície para outra, ela se torna uma descarga eletrostática (ESD) e se move entre as duas superfícies na forma de um raio em miniatura.

Quando uma carga estática se move, ela se torna uma corrente que pode danificar ou destruir o óxido de comporta, camadas metálicas e junções.

O JEDEC testa ESD de duas maneiras diferentes:

1. Modo Corpo Humano (HBM)

Um nível de estresse de componente desenvolvido para simular a ação de um corpo humano descarregando carga estática acumulada através de um dispositivo para o solo.

2. Modelo de dispositivo carregado (CDM)

Um estresse em nível de componente que simula eventos de carga e descarga que ocorrem em equipamentos e processos de produção, de acordo com a especificação JEDEC JESD22-C101.