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Câmara de Teste Sustentável

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  • O papel da câmara de teste de alta e baixa temperatura para testes de componentes eletrônicos O papel da câmara de teste de alta e baixa temperatura para testes de componentes eletrônicos
    Jan 10, 2025
    O papel da câmara de teste de alta e baixa temperatura para testes de componentes eletrônicosCâmara de teste de alta e baixa temperatura é usado para componentes eletrônicos e elétricos, peças de automação, componentes de comunicação, peças automotivas, metal, materiais químicos, plásticos e outras indústrias, indústria de defesa nacional, aeroespacial, militar, BGA, chave de substrato de PCB, chip eletrônico IC, semicondutor cerâmico magnético e mudanças físicas de material de polímero. Testar o desempenho de seu material para suportar altas e baixas temperaturas e as mudanças químicas ou danos físicos do produto em expansão e contração térmica pode confirmar a qualidade do produto, de ICs de precisão a componentes de máquinas pesadas, será uma câmara de teste essencial para testes de produtos em vários campos.O que a câmara de teste de alta e baixa temperatura pode fazer pelos componentes eletrônicos? Os componentes eletrônicos são a base de toda a máquina e podem causar falhas relacionadas ao tempo ou ao estresse durante o uso devido a seus defeitos inerentes ou controle inadequado do processo de fabricação. Para garantir a confiabilidade de todo o lote de componentes e atender aos requisitos de todo o sistema, você precisa excluir os componentes que podem ter falhas iniciais sob condições operacionais.1. Armazenamento em alta temperaturaA falha de componentes eletrônicos é causada principalmente por várias mudanças físicas e químicas no corpo e na superfície, que estão intimamente relacionadas à temperatura. Após a temperatura aumentar, a velocidade da reação química é bastante acelerada, acelerando o processo de falha. Os componentes defeituosos podem ser expostos a tempo e eliminados.A triagem de alta temperatura é amplamente usada em dispositivos semicondutores, o que pode efetivamente eliminar mecanismos de falha, como contaminação de superfície, má ligação e defeitos de camada de óxido. Geralmente armazenado na temperatura de junção mais alta por 24 a 168 horas. A triagem de alta temperatura é simples, barata e pode ser realizada em muitas peças. Após o armazenamento em alta temperatura, o desempenho do parâmetro dos componentes pode ser estabilizado e o desvio do parâmetro em uso pode ser reduzido.2. Teste de potênciaNa triagem, sob a ação combinada do estresse termoelétrico, muitos defeitos potenciais do corpo e da superfície do componente podem ser bem expostos, o que é um projeto importante de triagem de confiabilidade. Vários componentes eletrônicos são geralmente refinados por algumas horas a 168 horas sob condições de potência nominal. Alguns produtos, como circuitos integrados, não podem alterar arbitrariamente as condições, mas podem usar o modo de trabalho de alta temperatura para aumentar a temperatura da junção de trabalho para atingir um estado de alto estresse. O refino de energia requer equipamento de teste especial, câmara de teste de alta e baixa temperatura, alto custo, o tempo de triagem não deve ser muito longo. Os produtos civis geralmente são algumas horas, os produtos militares de alta confiabilidade podem escolher 100.168 horas e os componentes de nível de aviação podem escolher 240 horas ou mais.3. Ciclo de temperaturaProdutos eletrônicos encontrarão diferentes condições de temperatura ambiente durante o uso. Sob o estresse da expansão e contração térmica, componentes com desempenho de correspondência térmica ruim são fáceis de falhar. A triagem do ciclo de temperatura utiliza o estresse de expansão e contração térmica entre temperaturas extremamente altas e extremamente baixas para eliminar efetivamente produtos com defeitos de desempenho térmico. As condições de triagem de componentes comumente usadas são -55~125℃, 5~10 ciclos.O refino de energia requer equipamento de teste especial, alto custo, o tempo de triagem não deve ser muito longo. Produtos civis geralmente são algumas horas, produtos militares de alta confiabilidade podem escolher 100.168 horas, e componentes de nível de aviação podem escolher 240 horas ou mais.4. A necessidade de componentes de triagemA confiabilidade inerente dos componentes eletrônicos depende do design de confiabilidade do produto. No processo de fabricação do produto, devido a fatores humanos ou flutuações em matérias-primas, condições de processo e condições de equipamento, o produto final não pode atingir a confiabilidade inerente esperada. Em cada lote de produtos acabados, sempre há alguns produtos com alguns defeitos e fraquezas potenciais, que são caracterizados por falha precoce sob certas condições de estresse. A vida média de peças com falha precoce é muito menor do que a de produtos normais.Se o equipamento eletrônico pode funcionar de forma confiável depende se os componentes eletrônicos podem funcionar de forma confiável. Se as peças de falha precoce forem instaladas junto com todo o equipamento da máquina, a taxa de falha da falha precoce de todo o equipamento da máquina aumentará muito, e sua confiabilidade não atenderá aos requisitos, e também pagará um preço alto para consertar.Portanto, seja um produto militar ou civil, a triagem é um meio importante para garantir a confiabilidade. A câmara de teste de alta e baixa temperatura é a melhor escolha para o teste de confiabilidade ambiental de componentes eletrônicos.
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  • Verificação vibracional para funcionalidade (VVF) Verificação vibracional para funcionalidade (VVF)
    Nov 18, 2024
    Verificação vibracional para funcionalidade (VVF)Na vibração gerada durante o transporte, as caixas de carga são suscetíveis a pressões dinâmicas complexas, e a resposta ressonante gerada é violenta, o que pode causar falha na embalagem ou no produto. Identificar a frequência crítica e o tipo de pressão na embalagem minimizará essa falha. O teste de vibração é a avaliação da resistência à vibração de componentes, componentes e máquinas completas no ambiente esperado de transporte, instalação e uso.Os modos de vibração comuns podem ser divididos em vibração sinusoidal e vibração aleatória. A vibração sinusoidal é um método de teste frequentemente usado em laboratório, que simula principalmente a vibração gerada por rotação, pulsação e oscilação, bem como a análise de frequência de ressonância e verificação de residência do ponto de ressonância da estrutura do produto. É dividido em vibração de frequência de varredura e vibração de frequência fixa, e sua gravidade depende da faixa de frequência, valor de amplitude e duração do teste. A vibração aleatória é usada para simular a avaliação geral da resistência sísmica estrutural do produto e do ambiente de remessa no estado embalado, com a gravidade dependendo da faixa de frequência, GRMS, duração do teste e orientação axial.A vibração pode não apenas afrouxar os componentes da lâmpada, causando deslocamento relativo interno, resultando em dessoldagem, mau contato, baixo desempenho de trabalho, mas também fazer com que os componentes produzam ruído, desgaste, falha física e até mesmo fadiga dos componentes.Para esse fim, a Lab Companion lançou um negócio profissional de "teste de vibração de lâmpada LED" para simular a vibração ou choque mecânico que pode ocorrer no ambiente real de transporte, instalação e uso da lâmpada, avaliar a resistência à vibração da lâmpada LED e a estabilidade de seus indicadores de desempenho relacionados e encontrar o elo fraco que pode causar danos ou falhas. Melhore a confiabilidade geral dos produtos LED e melhore o status de falha da indústria devido ao transporte ou outros choques mecânicos.Clientes de serviço: fábrica de iluminação LED, agentes de iluminação, revendedores de iluminação, empresas de decoraçãoMétodo de teste:1, a embalagem da amostra da lâmpada LED é colocada na bancada de teste de vibração;2, a velocidade de vibração do testador de vibração é definida para 300 RPM, a amplitude é definida para 2,54 cm, inicie o medidor de vibração;3, a lâmpada de acordo com o método acima nas três direções superior e inferior, esquerda e direita, frontal e traseira, respectivamente, teste por 30 minutos.Avaliação dos resultados: Após o teste de vibração, a lâmpada não pode apresentar queda de peças, danos estruturais, iluminação e outros fenômenos anormais.
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  • Câmara de teste de triagem de estresse ambiental ESS Câmara de teste de triagem de estresse ambiental ESS
    Nov 11, 2024
    Câmara de teste de triagem de estresse ambiental ESSO sistema de fornecimento de ar horizontal completo da direita para a esquerda com grande volume de ar é adotado, de modo que todos os carros de amostra e amostras no teste sejam carregados e divididos, e a troca de calor seja concluída de maneira uniforme e rápida.◆ A taxa de utilização do espaço de teste é de até 90%◆ O design especial do "sistema de fluxo de ar horizontal uniforme" do equipamento ESS é a patente da Ring Measurement.Número de patente: 6272767◆ Equipado com sistema de regulação do volume de ar◆ Circulador de turbina exclusivo (o volume de ar pode atingir 3000~8000CFM)◆ Estrutura do tipo piso, carregamento e descarregamento convenientes de produtos testados◆ De acordo com a estrutura especial do produto testado, a caixa adequada para instalação é usada◆ O sistema de controle e o sistema de refrigeração podem ser separados da caixa, o que é fácil de planejar ou fazer redução de ruído no laboratório◆ Adote o controle de temperatura de equilíbrio frio, mais economia de energia◆ O equipamento adota a válvula de refrigeração Sporlan da marca líder mundial com alta confiabilidade e longa vida útil◆ O sistema de refrigeração do equipamento adota tubo de cobre espessado◆ Todas as peças elétricas fortes são feitas de fios resistentes a altas temperaturas, o que proporciona maior segurança
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  • Teste de Aceleração de Testes de Confiabilidade Teste de Aceleração de Testes de Confiabilidade
    Nov 09, 2024
    Teste de Aceleração de Testes de ConfiabilidadeA maioria dos dispositivos semicondutores tem vidas úteis que se estendem por muitos anos em uso normal. No entanto, não podemos esperar anos para estudar um dispositivo; temos que aumentar o estresse aplicado. Estresses aplicados aumentam ou aceleram mecanismos de falha em potencial, ajudam a identificar a causa raiz e ajudam companheiro de laboratório tome medidas para evitar o modo de falha.Em dispositivos semicondutores, alguns aceleradores comuns são temperatura, umidade, voltagem e corrente. Na maioria dos casos, o teste acelerado não altera a física da falha, mas altera o tempo de observação. A mudança entre a condição acelerada e a de uso é conhecida como 'derating'.Testes altamente acelerados são uma parte essencial dos testes de qualificação baseados em JEDEC. Os testes abaixo refletem condições altamente aceleradas com base na especificação JEDEC JESD47. Se o produto passar nesses testes, os dispositivos serão aceitáveis ​​para a maioria dos casos de uso.Ciclo de temperaturaDe acordo com o padrão JESD22-A104, o ciclo de temperatura (TC) submete as unidades a transições extremas de temperaturas altas e baixas entre as duas. O teste é realizado ciclando a exposição da unidade a essas condições por um número predeterminado de ciclos.Vida útil operacional em alta temperatura (HTOL)HTOL é usado para determinar a confiabilidade de um dispositivo em alta temperatura enquanto sob condições operacionais. O teste é geralmente executado por um longo período de tempo de acordo com o padrão JESD22-A108.Teste de Tensão Altamente Acelerada com Tendência de Temperatura e Umidade (BHAST)De acordo com o padrão JESD22-A110, THB e BHAST submetem um dispositivo a condições de alta temperatura e alta umidade enquanto sob um viés de tensão com o objetivo de acelerar a corrosão dentro do dispositivo. THB e BHAST atendem ao mesmo propósito, mas as condições e procedimentos de teste de BHAST permitem que a equipe de confiabilidade teste muito mais rápido do que THB.Autoclave/HAST imparcialAutoclave e HAST imparcial determinam a confiabilidade de um dispositivo sob condições de alta temperatura e alta umidade. Como THB e BHAST, é realizado para acelerar a corrosão. Ao contrário desses testes, no entanto, as unidades não são estressadas sob um viés.Armazenamento em alta temperaturaHTS (também chamado de Bake ou HTSL) serve para determinar a confiabilidade de longo prazo de um dispositivo sob altas temperaturas. Diferentemente de HTOL, o dispositivo não está sob condições operacionais durante o teste.Descarga eletrostática (ESD)Carga estática é uma carga elétrica desequilibrada em repouso. Normalmente, ela é criada por superfícies isolantes esfregando-se ou afastando-se; uma superfície ganha elétrons, enquanto a outra superfície perde elétrons. O resultado é uma condição elétrica desequilibrada conhecida como carga estática.Quando uma carga estática se move de uma superfície para outra, ela se torna uma descarga eletrostática (ESD) e se move entre as duas superfícies na forma de um raio em miniatura.Quando uma carga estática se move, ela se torna uma corrente que pode danificar ou destruir o óxido de comporta, camadas metálicas e junções.O JEDEC testa ESD de duas maneiras diferentes:1. Modo Corpo Humano (HBM)Um nível de estresse de componente desenvolvido para simular a ação de um corpo humano descarregando carga estática acumulada através de um dispositivo para o solo.2. Modelo de dispositivo carregado (CDM)Um estresse em nível de componente que simula eventos de carga e descarga que ocorrem em equipamentos e processos de produção, de acordo com a especificação JEDEC JESD22-C101.
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  • Conversão entre envelhecimento acelerado da câmara de teste de envelhecimento da lâmpada de xenônio e envelhecimento ao ar livre Conversão entre envelhecimento acelerado da câmara de teste de envelhecimento da lâmpada de xenônio e envelhecimento ao ar livre
    Nov 08, 2024
    Conversão entre envelhecimento acelerado da câmara de teste de envelhecimento da lâmpada de xenônio e envelhecimento ao ar livre Em termos gerais, é difícil ter uma fórmula detalhada de posicionamento e conversão para a conversão entre envelhecimento acelerado da câmara de teste de envelhecimento de lâmpada de xenônio e envelhecimento externo. O maior problema é a variabilidade e a complexidade do ambiente externo. As variáveis ​​que determinam a relação entre a exposição da câmara de teste de envelhecimento de lâmpada de xenônio e a exposição externa incluem:1. Latitude geográfica dos locais de exposição ao envelhecimento ao ar livre (mais perto do equador significa mais UV).2. Altitude (maior altitude significa mais UV).3. Características geográficas locais, como o vento, podem secar a amostra de teste ou a proximidade da água produzirá condensação.4. Mudanças aleatórias no clima de ano para ano podem levar a uma mudança de 2:1 no envelhecimento no mesmo local.5. Mudanças sazonais (por exemplo, a exposição no inverno pode ser 1/7 da exposição no verão).6. Direção da amostra (5° sul vs. vertical voltada para o norte)7. Isolamento da amostra (amostras externas com suporte isolado envelhecem 50% mais rápido do que amostras não isoladas).8. Ciclo de trabalho da caixa de envelhecimento da lâmpada de xenônio (tempo de luz e tempo úmido).9. A temperatura de trabalho da câmara de teste (quanto maior a temperatura, mais rápido o envelhecimento).10. Teste a exclusividade da amostra.11. Distribuição de Intensidade Espectral (SPD) de fontes de luz de laboratórioObjetivamente falando, o envelhecimento acelerado e o envelhecimento ao ar livre não têm conversibilidade, um é uma variável, um é um valor fixo, a única coisa a fazer é obter um valor relativo, em vez de um valor absoluto. Claro, isso não quer dizer que valores relativos não tenham efeito; pelo contrário, valores relativos também podem ser muito eficazes. Por exemplo, você descobrirá que uma ligeira mudança no design pode dobrar a durabilidade de materiais padrão. Ou você pode encontrar o mesmo material de vários fornecedores, alguns dos quais envelhecem rapidamente, a maioria dos quais leva um tempo moderado para envelhecer e uma quantidade menor que envelhece após uma exposição mais longa. Ou você pode descobrir que designs menos caros têm a mesma durabilidade em relação a materiais padrão que têm desempenho satisfatório ao longo da vida útil real, como 5 anos.
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  • Célula solar de película fina Célula solar de película fina
    Oct 30, 2024
    Célula solar de película finaCélula solar de filme fino é um tipo de célula solar fabricada por tecnologia de filme fino, que tem as vantagens de baixo custo, espessura fina, peso leve, flexibilidade e capacidade de dobra. Geralmente é feita de materiais semicondutores, como seleneto de cobre, índio e gálio (CIGS), telureto de cádmio (CdTe), silício amorfo, arseneto de gálio (GaAs), etc. Esses materiais têm alta eficiência de conversão fotoelétrica e podem gerar eletricidade em condições de pouca luz.Células solares de filme fino podem ser usadas em vidro barato, plástico, cerâmica, grafite, chapa metálica e outros materiais diferentes como substratos para fabricação, formando uma espessura de filme que pode gerar voltagem de apenas alguns μm, então a quantidade de matérias-primas pode ser significativamente reduzida do que células solares de wafer de silício sob a mesma área de recepção de luz (a espessura pode ser menor do que células solares de wafer de silício mais de 90%). Atualmente, a eficiência de conversão de até 13%, células solares de filme fino não são apenas adequadas para estrutura plana, por causa de sua flexibilidade também podem ser feitas em estrutura não plana, tem uma ampla gama de perspectivas de aplicação, podem ser combinadas com edifícios ou se tornar uma parte do corpo do edifício.Aplicação do produto de célula solar de filme fino:Módulos de células solares translúcidas: Construindo aplicações integradas de energia solar (BIPV)Aplicação de energia solar de filme fino: fonte de alimentação recarregável dobrável portátil, militar, viagemAplicações de módulos solares de película fina: coberturas, integração de edifícios, fornecimento remoto de energia, defesaCaracterísticas das células solares de película fina:1. Menor perda de energia sob a mesma área de blindagem (boa geração de energia sob luz fraca)2. A perda de potência sob a mesma iluminação é menor do que a das células solares de wafer3. Melhor coeficiente de temperatura de potência4. Melhor transmissão de luz5. Alta geração de energia cumulativa6. Apenas uma pequena quantidade de silício é necessária7. Não há problema de curto-circuito no circuito interno (a conexão foi construída na fabricação da bateria em série)8. Mais fino que células solares de wafer9. O fornecimento de material é seguro10. Uso integrado com materiais de construção (BIPV)Comparação de espessura de células solares:Silício cristalino (200 ~ 350μm), filme amorfo (0,5μm)Tipos de células solares de película fina:Silício amorfo (a-Si), silício nanocristalino (nc-Si), silício microcristalino, mc-Si), semicondutores compostos II-IV [CdS, CdTe (telureto de cádmio), CuInSe2], células solares sensibilizadas por corante, células solares orgânicas/polímero, CIGS (seleneto de cobre e índio)... Etc.Diagrama da estrutura do módulo solar de película fina:O módulo solar de película fina é composto de substrato de vidro, camada metálica, camada condutora transparente, caixa de função elétrica, material adesivo, camada semicondutora... E assim por diante.Especificação de teste de confiabilidade para células solares de filme fino:IEC61646 (padrão de teste de módulo fotoelétrico solar de película fina), CNS15115 (validação de projeto e aprovação de tipo de módulo fotoelétrico solar terrestre de silício de película fina)Câmara de teste de temperatura e umidade de Companheiro de laboratórioSérie de câmaras de teste de temperatura e umidade, passou a certificação CE, oferece 34L, 64L, 100L, 180L, 340L, 600L, 1000L, 1500L e outros modelos de volume para atender às necessidades de diferentes clientes. No design, eles usam refrigerante ecológico e sistema de refrigeração de alto desempenho, peças e componentes são usados ​​na famosa marca internacional.
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  • Teste de confiabilidade de tubo de calor Teste de confiabilidade de tubo de calor
    Oct 29, 2024
    Teste de confiabilidade de tubo de calorA tecnologia de tubo de calor é um elemento de transferência de calor chamado "tubo de calor" inventado pela GM Rover do Laboratório Nacional de Los Alamos em 1963, que faz uso total do princípio da condução de calor e das propriedades de transferência rápida de calor do meio de refrigeração, e transfere o calor do objeto de aquecimento rapidamente para a fonte de calor através do tubo de calor. Sua condutividade térmica excede a de qualquer metal conhecido. A tecnologia de tubo de calor tem sido amplamente utilizada nas indústrias aeroespacial, militar e outras, desde que foi introduzida na indústria de fabricação de radiadores, fazendo com que as pessoas mudem a ideia de design do radiador tradicional e se livrem do modo de dissipação de calor único que simplesmente depende do motor de alto volume de ar para obter melhor efeito de dissipação de calor. O uso da tecnologia de tubo de calor faz com que o radiador, mesmo se o uso de motor de baixa velocidade e baixo volume de ar, também possa obter resultados satisfatórios, de modo que o problema de ruído atormentado pelo calor do resfriamento a ar tenha sido bem resolvido, abrindo um novo mundo na indústria de dissipação de calor.Condições de teste de confiabilidade do tubo de calor:Teste de triagem de estresse de alta temperatura: 150℃/24 horasTeste de ciclo de temperatura:120℃(10min)←→-30℃(10min), Rampa: 0,5℃, 10 ciclos 125℃(60min)←→-40℃(60min), Rampa: 2,75℃, 10 ciclosTeste de choque térmico:120℃(2min)←→-30℃(2min), 250 ciclos125℃(5min)←→-40℃(5min), 250 ciclos100℃(5min)←→-50℃(5min), 2000 ciclos (verifique uma vez após 200 ciclos)Teste de alta temperatura e alta umidade:85℃/85% UR/1000 horasTeste de envelhecimento acelerado:110℃/85% UR/264hOutros itens de teste de tubo de calor:Teste de névoa salina, teste de resistência (jateamento), teste de taxa de vazamento, teste de vibração, teste de vibração aleatória, teste de choque mecânico, teste de combustão de hélio, teste de desempenho, teste de túnel de vento
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