Quais são os testes de confiabilidade para diodos emissores de luz para comunicação?

Quais são os testes de confiabilidade para diodos emissores de luz para comunicação?

Determinação de falha de dois tubos emissores de luz para comunicação:

Forneça uma corrente fixa para comparar a potência de saída óptica; se o erro for maior que 10%, a falha será determinada.

Teste de estabilidade mecânica:

Teste de choque: 5 tims/eixo, 1500G, 0,5 ms Teste de vibração: 20G, 20 ~ 2000Hz, 4min/ciclo, 4 ciclos/eixo Teste de choque térmico líquido: 100℃(15seg)←→0℃(5seg)/5 ciclos

Teste de durabilidade:

Teste de envelhecimento acelerado: 85℃/potência (potência nominal máxima)/5000 horas, 10000 horas

Teste de armazenamento em alta temperatura: temperatura máxima de armazenamento nominal /2000 horas

Teste de armazenamento em baixa temperatura: temperatura máxima de armazenamento nominal /2000 horas

Teste de ciclo de temperatura: -40℃(30min)←85℃(30min), RAMP: 10/min, 500 ciclos

Teste de resistência à umidade: 40℃/95%/56 dias, 85℃/85%/2000 horas, tempo de selagem

Teste de triagem de elemento de diodo de comunicação:

Teste de triagem de temperatura: 85℃/potência (potência nominal máxima)/96 horas de determinação de falha de triagem: Compare a potência de saída óptica com a corrente fixa e determine a falha se o erro for maior que 10%

Teste de triagem do módulo de diodo de comunicação:

Etapa 1: Triagem do ciclo de temperatura: -40℃(30min)←→85℃(30min), RAMP: 10/min, 20 ciclos, sem fonte de alimentação

Segundo: Teste de triagem de temperatura: 85℃/potência (potência nominal máxima)/96 horas