AEC-Q100- Mecanismo de falha baseado em certificação de teste de estresse de circuito integradoCom o progresso da tecnologia eletrônica automotiva, há muitos sistemas de controle de gerenciamento de dados complicados nos carros de hoje e, por meio de muitos circuitos independentes, para transmitir os sinais necessários entre cada módulo, o sistema dentro do carro é como a "arquitetura mestre-escravo" da rede de computadores. Na unidade de controle principal e em cada módulo periférico, as peças eletrônicas automotivas são divididas em três categorias. Incluindo IC, semicondutor discreto, componentes passivos três categorias, a fim de garantir que esses componentes eletrônicos automotivos atendam aos mais altos padrões de anquan automotivo, a American Automotive Electronics Association (AEC, The Automotive Electronics Council é um conjunto de padrões [AEC-Q100] projetados para peças ativas [microcontroladores e circuitos integrados...] e [[AEC-Q200] projetados para componentes passivos, que especifica a qualidade do produto e a confiabilidade que devem ser alcançadas para peças passivas. Aec-q100 é o padrão de teste de confiabilidade do veículo formulado pela organização AEC, que é uma entrada importante para fabricantes de 3C e IC no módulo de fábrica de automóveis internacional e também uma tecnologia importante para melhorar a qualidade de confiabilidade do IC de Taiwan. Além disso, a fábrica de automóveis internacional passou no padrão anquan (ISO-26262). AEC-Q100 é o requisito básico para passar neste padrão.Lista de peças eletrônicas automotivas necessárias para passar no AECQ-100:Memória descartável automotiva, regulador redutor de fonte de alimentação, fotoacoplador automotivo, sensor acelerômetro de três eixos, dispositivo de vídeo jiema, retificador, sensor de luz ambiente, memória ferroelétrica não volátil, CI de gerenciamento de energia, memória flash incorporada, regulador CC/CC, dispositivo de comunicação de rede de medidor de veículo, CI de driver LCD, amplificador diferencial de fonte de alimentação única, interruptor de proximidade capacitivo desligado, driver de LED de alto brilho, comutador assíncrono, CI de 600 V, CI de GPS, chip de sistema avançado de assistência ao motorista ADAS, receptor GNSS, amplificador front-end GNSS... Vamos esperar.Categorias e testes AEC-Q100:Descrição: Especificação AEC-Q100 7 categorias principais, um total de 41 testesO Grupo A- TESTES DE ESTRESSE AMBIENTAL ACELERADOS é composto por 6 testes: PC, THB, HAST, AC, UHST, TH, TC, PTC, HTSLGrupo B - TESTES DE SIMULAÇÃO DE VIDA ACELERADA consiste em três testes: HTOL, ELFR e EDRTESTES DE INTEGRIDADE DE MONTAGEM DE PACOTES consiste em 6 testes: WBS, WBP, SD, PD, SBS, LIGrupo D - O teste de CONFIABILIDADE DE FABRICAÇÃO DE MATRIZES consiste em 5 TESTES: EM, TDDB, HCI, NBTI, SMO grupo TESTES DE VERIFICAÇÃO ELÉTRICA consiste em 11 testes, incluindo TEST, FG, HBM/MM, CDM, LU, ED, CHAR, GL, EMC, SC e SERTESTES DE TRIAGEM DE DEFEITOS DO CLUBE F: 11 testes, incluindo: PAT, SBAOs TESTES DE INTEGRIDADE DO PACOTE DE CAVIDADE consistem em 8 testes, incluindo: MS, VFV, CA, GFL, DROP, LT, DS, IWVBreve descrição dos itens de teste:AC: Panela de pressãoCA: aceleração constanteCDM: modo de dispositivo carregado por descarga eletrostáticaCHAR: indica a descrição do recursoDROP: O pacote caiDS: teste de cisalhamento de cavacosED: Distribuição elétricaEDR: durabilidade de armazenamento não sujeita a falhas, retenção de dados, vida útilELFR: Taxa de falha no início da vidaEM: eletromigraçãoEMC: Compatibilidade eletromagnéticaFG: nível de falhaGFL: Teste de vazamento de ar grosso/finoGL: Vazamento de comporta causado por efeito termoelétricoHBM: indica o modo humano de descarga eletrostáticaHTSL: Vida útil de armazenamento em alta temperaturaHTOL: Vida útil em alta temperaturaHCL: efeito de injeção de transportador quenteIWV: Teste higroscópico internoLI: Integridade do pinoLT: Teste de torque da placa de coberturaLU: Efeito de travamentoMM: indica o modo mecânico de descarga eletrostáticaMS: Choque mecânicoNBTI: instabilidade de temperatura de viés ricoPAT: Teste de média de processoPC: Pré-processamentoPD: tamanho físicoPTC: ciclo de temperatura de potênciaSBA: Análise estatística de rendimentoSBS: cisalhamento de bolas de estanhoSC: Recurso de curto-circuitoSD: soldabilidadeSER: Taxa de erro suaveSM: Migração de estresseTC: ciclo de temperaturaTDDB: Tempo através da ruptura dielétricaTESTE: Parâmetros de função antes e depois do teste de estresseTH: umidade e calor sem preconceitosTHB, HAST: Testes de temperatura, umidade ou estresse acelerado alto com viés aplicadoUHST: Teste de estresse de alta aceleração sem viésVFV: vibração aleatóriaWBS: corte de arame de soldaWBP: tensão do fio de soldagemCondições de teste de temperatura e umidade final:THB (temperatura e umidade com polarização aplicada, de acordo com JESD22 A101): 85℃/85% UR/1000h/polarizaçãoHAST (teste de estresse acelerado alto de acordo com JESD22 A110): 130℃/85% UR/96h/polarização, 110℃/85% UR/264h/polarizaçãoPanela de pressão CA, de acordo com JEDS22-A102:121 ℃/100%RH/96hTeste de estresse de alta aceleração UHST sem viés, de acordo com JEDS22-A118, equipamento: HAST-S): 110℃/85%RH/264hTH sem calor úmido de polarização, de acordo com JEDS22-A101, equipamento: THS): 85℃/85%RH/1000hTC (ciclo de temperatura, conforme JEDS22-A104, equipamento: TSK, TC):Nível 0: -50℃←→150℃/2000ciclosNível 1: -50℃←→150℃/1000 ciclosNível 2: -50℃←→150℃/500 ciclosNível 3: -50℃←→125℃/500 ciclosNível 4: -10℃←→105℃/500 ciclosPTC (ciclo de temperatura de potência, conforme JEDS22-A105, equipamento: TSK):Nível 0: -40℃←→150℃/1000 ciclosNível 1: -65℃←→125℃/1000 ciclosNível 2 a 4: -65℃←→105℃/500 ciclosHTSL (Vida útil de armazenamento em alta temperatura, JEDS22-A103, dispositivo: FORNO):Peças de embalagem de plástico: Grau 0:150 ℃/2000hGrau 1:150 ℃/1000hGrau 2 a 4:125 ℃/1000h ou 150℃/5000hPeças de embalagem de cerâmica: 200℃/72hHTOL (vida útil em alta temperatura, JEDS22-A108, equipamento: FORNO):Grau 0:150 ℃/1000hClasse 1:150℃/408h ou 125℃/1000hGrau 2:125℃/408h ou 105℃/1000hGrau 3:105℃/408h ou 85℃/1000hClasse 4:90℃/408h ou 70℃/1000h ELFR (Taxa de falha no início da vida útil, AEC-Q100-008) : Os dispositivos que passam neste teste de estresse podem ser usados para outros testes de estresse, dados gerais podem ser usados e os testes antes e depois do ELFR são realizados em condições de temperatura amenas e altas.
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